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BeamPeek?系統(tǒng)

更新時間:2025-03-13

瀏覽量:2091

品牌：OPHIR
型號：BeamPeek
描述：BeamPeek? 系統(tǒng)允許同時對增材制造 (AM) 激光器進行光束分析、焦斑大小和位置以及功率測量。它跟蹤這些參數(shù)如何隨時間變化，以幫助維持制造零件的質量和可重復性。...
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產品介紹

BeamPeek?系統(tǒng)的功能特性：

用戶手冊

BeamPeek? 集成了激光光束分析儀相機、功率計、光束收集器、分束器和光學器件，為工業(yè)環(huán)境中的增材制造激光分析提供了一個全面的解決方案。

焦點尺寸
校準焦點位置以構建平面
激光功率
激光功率密度
光斑大小和功率隨時間的變化

BeamPeek 允許在 1kW 的情況下使用被動冷卻進行長達 2 分鐘的連續(xù)測量，無需風扇或通過射束收集器可互換盒進行水/空氣冷卻。其工業(yè)設計使其易于集成到生產線中并在不干擾生產過程的情況下執(zhí)行激光特性分析。

BeamPeek?系統(tǒng)圖紙：

BeamPeek?系統(tǒng)規(guī)格：

Beam Profiling
波長	532nm, 1030-1080nm
最小-最大焦點尺寸	34.5μm - 2mm
功率范圍	10 - 1000 瓦
焦距	150mm-800mm
焦點位置已校準	±100μm
光束分析	ISO 11146 測量
功率計	NIST 溯源校準 ±3%
遵守	CE、UKCA、中國 RoHS

BeamPeek?系統(tǒng) FAQ

BP 是否需要定期校準？
是的，因為 BeamPeek 包括 Ophir 常規(guī)功率計。

相機傳感器/焦平面位于何處？
與具有焦平面設置的 BeamCheck 不同，當激光焦點位于床表面時，相機傳感器處于對焦狀態(tài)，BeamPeek 相機傳感器在底座/機器床上大約 75 毫米（精確值針對每個設備單獨校準） . 為了使光束聚焦在相機傳感器上，床身必須向下移動校準值。這種設置的原因是改進了功率處理：更高的功率和更長的高功率曝光時間。